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AP54RHC505ELT-R

Name: Apogee Semiconductor AP54RHC505ELT-R
Brand: Apogee Semiconductor
SKU: 444-AP54RHC505ELT-R
Price: 61648 CRC
Availability: InStock

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Mouser N.º:

444-AP54RHC505ELT-R

Fabricante N.º:

AP54RHC505ELT-R

Fabricante:

Apogee Semiconductor

Descripción:

Traducción - Niveles de tensión LEO 5-Ch Level Translators w/Bus Hold E-Grade SnPb TSSOP14 Tape and Reel

Hoja de datos:

AP54RHC505ELT-R Hoja de datos (PDF)

Modelo ECAD:

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Precio (CRC)

Cantidad	Precio unitario	Precio ext.
	₡61 648	₡61 648
	₡51 545	₡515 450
	₡49 022	₡1 225 550
	₡46 255	₡4 625 500
Envase tipo carrete completo (pedir en múltiplos de 250)
	₡44 938	₡11 234 500
500	Presupuesto

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Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Apogee Semiconductor
Categoría de producto:	Traducción - Niveles de tensión
RoHS:
REACH - SVHC:
Tipo:	Level Translator
Tipo lógico:	CMOS
Paquete / Cubierta:	TSSOP-14
Voltaje de alimentación - Máx.:	5.5 V
Voltaje de alimentación - Mín.:	1.65 V
Serie:	AP54RHC505
Tiempo de retardo de propagación:	25 ns
Temperatura de trabajo mínima:	- 55 C
Temperatura de trabajo máxima:	+ 125 C
Estilo de montaje:	SMD/SMT
Empaquetado:	Reel
Empaquetado:	Cut Tape
Marca:	Apogee Semiconductor
País de ensamblaje:	Not Available
País de difusión:	Not Available
País de origen:	US
Familia lógica:	AP54RHC
Número de canales:	5 Channel
Corriente de suministro operativa:	100 mA
Tipo de producto:	Translation - Voltage Levels
Cantidad de empaque de fábrica:	250
Subcategoría:	Logic ICs
Nombre comercial:	RelBridge
Peso de la unidad:	47 mg

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Hoja de datos

AP54RHC505ELT-R Hoja de datos (PDF)

PCN

Test/Quality Data

USHTS:: 8542390090
TARIC:: 8542399000
ECCN:: EAR99

AP54RHC505 Rad-Hard 5-Ch Translators w/Bus Hold

Apogee Semiconductor AP54RHC505 Rad-Hard 5-Channel Level Translators with 3-state outputs and bus-keepers are designed for space, medical imaging, and other applications requiring radiation tolerance. The radiation-hardened by design AP54RHC505 level translators are fabricated in a 180nm CMOS process. These translators deliver high resiliency to single-event effects (SEE) and to a total ionizing dose (TID) up to 30krad (Si).